leeb253型大量程涂镀层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量；广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
leeb253型大量程涂镀层测厚仪符合以下标准：
GB/T4956─1985磁性方法；
JJG818-95《磁阻法测厚仪》；
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。
leeb253型大量程涂镀层测厚仪功能与特点
采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性；
覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)；
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；
具有米、英制转换功能；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
leeb253型大量程涂镀层测厚仪技术参数
测头类型：F；
测量原理：磁感应；
测量范围：0-6000um；
低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um)；
探头连接方式：一体化；
leeb253型大量程涂镀层测厚仪示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1]；
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]；
leeb253型大量程涂镀层测厚仪测量条件：
*小曲率半径(mm)：凸1.5|凹9；
基体*小面积的直径(mm)：ф7；
*小临界厚度(mm)：0.5；
温湿度：0~40℃|20%RH～90%RH；
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)；
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
leeb253型大量程涂镀层测厚仪上下限设置：无；
关机方式：自动；
电源：二节3.6V镍镉电池；
外形尺寸：150×55.5×23mm；
重量：150g。
leeb253型大量程涂镀层测厚仪标准配置
leeb253主机；
铁基体；
标准片一套；
充电器；
使用说明书；
合格证书；
包装箱。
可选配
标准片。
京公网安备 11010602006193号
